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          首頁 > 技術與支持 > 賽可世界樶高分辨率X-eye NF120介紹
          

          

          	 
			 				 

          賽可世界樶高分辨率X-eye NF120介紹
          

          點擊次數：1970 更新時間：2021-11-11
          

          

          賽可世界樶高分辨率X-eye NF120概述
          納米-focus X射線檢測設備
          適應于亞微米單位不良檢測要求的半導體封裝，晶片領域檢測(WLP)，配備400納米級的納米-focus 射線管的設備。
          用精密的定位軸可將不良位置準確的檢查出來。
          配備3D CT模塊時可進行單層分析，通過晶片方向盤的安裝，對晶片樣品進行自動解讀。
          Wafer Bump Void
          Wafer TSV Void
          賽可世界樶高分辨率X-eye NF120特點
          ★ 為 Wafer Lebel Packaging檢測的非破壞分析設備
          ★ 提供Dual Type的CT，獲得最清影像
          ★ TSV, Micro Bump, Pattern

          

          







  
	 
          

          

          

          


















          





 
  


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