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          首頁 > 技術與支持 > HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®介紹
          HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®介紹
          點擊次數:2836 更新時間:2021-12-22

          HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®概述

          HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術)—-熒光光譜儀器的,提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種偶聯技術的解決方案。

          借助于成熟的FluoroLog&reg;技術,Nanolog&reg;采用模塊化設計,即可實現穩態測量,也可實現瞬態測量(TCSPC技術),系統搭配成像光譜儀,可實現紅外三維熒光快速測量。

          NanoLog &reg;系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究,NanoLog &reg;可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2&mu;m的多通道檢測器和~3&mu;m的單通道檢測器,同時也可實現紫外-可見區熒光光譜測量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設計的NanoSizer&reg;軟件,可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內徑分布,并且在微秒時間內就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內獲得的激發-發射三維熒光光譜圖。

          可選附件:

          · 超連續激光光源
          · 液氮杜瓦瓶
          · HPLC流通池
          · 光纖導入支架
          · 多芯光纖
          · 四位電磁攪拌控溫樣品架
          · 兩位電磁攪拌控溫樣品架
          · 單池電磁攪拌控溫樣品架
          · 固體樣品架
          · 積分球
          · 停留附件
          · 顯微鏡耦合部件
          · 多孔板閱讀器
          · 鉑爾貼控溫裝置
          · 外部觸發裝置
          · 自動滴定注射附件
          · 1~5/50/250&mu;L微量樣品池
          · 截止濾光片
          · 偏振片附件
          · 低溫附件

          技術參數:

          · 450W的大功率連續氙燈,涵蓋UV~NIR波長范圍
          · 快速獲得全波長范圍激發-發射三維熒光圖
          · Symphony II InGaAs陣列檢測器:800~1700nm;規格可選:256&times;1,512&times;1和1024&times;1,單像元25&micro;m;噪音水平:650erms (液氮制冷);可選電制冷;擴展范圍可選(1.1-2.2&micro;m)
          · iHR320發射光譜儀:焦長=320mm;f/4.1;線色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全軟件控制三光柵塔輪(所有測定在光柵刻線數1200gr/mm條件下)
          · 固態近紅外檢測器,光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定,采用時間相關單光子計數技術測定熒光壽命范圍:100ps~1ms(UV~NIR);磷光壽命范圍1us~>10s(UV~NIR)

          HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®特點

          ★ 一秒內獲得激發-發射三維光譜
          ★ 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
          ★ 高光譜分辨率
          ★ 易于實現SWNTs的定性和定量分析
          ★ 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求:
          – PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
          – InGaAs陣列檢測器用于NIR數據的快速采集
          – CCD陣列檢測器用于UV-Vis數據的快速采集
          ★ 同時解析量子點
          ★ 易于實現能量轉移研究
          ★ 模塊設計以滿足不同實驗的需求

           

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